你的位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 人工晶狀體檢驗(yàn)設(shè)備 > 人工晶狀體曲率半徑測(cè)量?jī)x >人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀
產(chǎn)品詳細(xì)頁(yè)
人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀
簡(jiǎn)要描述：BRASS人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀是一款專門用于測(cè)量人工晶狀體表面曲率半徑的干涉儀，具有極大的實(shí)用性和高精度的特點(diǎn)，可以按照用戶產(chǎn)品的實(shí)際外形定制夾具以達(dá)到大測(cè)量效率。
城 市 ：上海市- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間：2024-07-17
- 訪 問(wèn) 量：1261
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀
由于在人工晶狀體生產(chǎn)過(guò)程中提供了可靠，準(zhǔn)確，快速和客觀的光學(xué)測(cè)量，Brass系列干涉儀已經(jīng)取得了*廣大用戶的*信任。Brass系列干涉儀能夠完成反射式幾何測(cè)量，同時(shí)可提供球面，環(huán)曲面，多焦點(diǎn)，非球面和各種復(fù)雜曲面的可視化條紋圖，幫助您交給你控制加工質(zhì)量。
人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀特點(diǎn)：
高精度、友好的用戶界面，簡(jiǎn)潔的操作，專注于人工晶狀體鏡片工業(yè)，堅(jiān)固耐用的剪切干涉儀
曲率半徑測(cè)量---前面和后表面
柱鏡和軸線測(cè)量
多焦點(diǎn)測(cè)量
非球面參數(shù)：e值，K值和SF值
表面質(zhì)量 / 均勻度
選配：
軟件和硬件可定制
可配合自動(dòng)化控制
技術(shù)規(guī)格：
測(cè)量精度：+/- 5 um
測(cè)量分辨率：0.5 um
重復(fù)精度：優(yōu)于2 um
尺寸：510*260*410mm（L*W*H）
重量：25Kg
操作系統(tǒng)：Windows XP/7 (32_64)/8.1/10
電源：110/220V AC 50、60Hz
測(cè)量時(shí)間：6秒（球面）
